膜厚計(jì)工作原理
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膜厚鍍層的測(cè)量勉強(qiáng)可以稱為長(zhǎng)度量測(cè)的一種
,
但實(shí)際上它的工作原理和測(cè)量方法與一
般的長(zhǎng)度測(cè)量是不一樣的。
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目前膜厚計(jì)測(cè)的要求有日漸增多的趨勢(shì)
,
這是由于涂膜已不再只是美化材料表
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面或防腐的功能而已
,
一些新的電器、電子
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產(chǎn)品
,
都是利用涂膜的工件來(lái)?yè)?dān)任一些重大
的工作
,
因此膜厚的計(jì)測(cè)非常值得我們重視。
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膜厚計(jì)可分為破壞式及非破壞式兩種。依其針對(duì)的測(cè)量對(duì)象不同而有所區(qū)別。一般而
言
,
膜厚測(cè)量有以下幾種場(chǎng)合
:
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1.
底材為磁性金屬
,
而涂膜為非磁性金屬
:
例如鋼板在加工工廠加工、割切、
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焊接時(shí)
,
須噴涂一層底漆
(Shop?PAINTING)
。
而此層涂漆如果太厚
,
非但耗費(fèi)
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漆材
,
而且嚴(yán)重防礙割切
,
焊接等工作的進(jìn)行
,
但如果噴涂太薄
,
又容易導(dǎo)致鋼
?
板生銹
,
以致影響施工品質(zhì)。
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2.
底材為非磁性金屬涂膜亦為非磁性金屬
:
例如照相用底片為塑料材料
,
而其感光膜亦
為非金屬材料。
(
例如鹵化銀
),
測(cè)量膜厚主要是作為底片生產(chǎn)品質(zhì)的控制
,
膜厚直接影響底片
沖洗的時(shí)間及影像的清晰度。
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3.
底材為磁性金屬而涂膜亦為磁性金屬
:
例如電鍍即是
,
鍍膜膜厚通常與電鍍時(shí)間有關(guān)
,
而鍍膜是否均勻則依賴生產(chǎn)技術(shù)的改良
,
這時(shí)候便須有良好的膜厚計(jì)來(lái)加以檢驗(yàn)了。
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4.
底材為非磁性金屬而涂膜為磁性金屬
:
噴敷技術(shù)或電鍍時(shí)先將底材表面金屬化
,
或是
蒸鍍
?,
都可達(dá)成此一任務(wù)
,
產(chǎn)品的例子如全反射面鏡
,
抗反射玻璃等等。
有時(shí)因品質(zhì)要求嚴(yán)格
,
其膜厚精度甚至控制在數(shù)
?n?m?
左右。
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現(xiàn)介紹各種不同的膜厚計(jì)測(cè)儀器如下
:
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1.
破壞式膜厚計(jì)
:
利用鉆石刀將底材連同膜厚截?cái)?/p>
,
然后將斷面置于光學(xué)顥微鏡檢查
,
其
斷面斜度有
30
度斜角
,60
度斜角及
45
度斜角的分別，亦有采用
90
度切斷檢查者。
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2.
光學(xué)橢圓儀
:
其原理是利用分光的技術(shù)
,
由于不同材料有不同折射率的特性
?,
因此求
得膜厚
,
其儀點(diǎn)為精度高
,
不論膜厚薄至數(shù)
?n?m?,
也可以量取
,
但是缺點(diǎn)是價(jià)格較貴。
1.破壞式膜厚計(jì):利用鉆石刀將底材連同膜厚截?cái)?然后將斷面置于光學(xué)顥微鏡檢查,其斷面斜度有30度斜角,60度斜角及45度斜角的分別，亦有采用90度切斷檢查者。 ?
2.光學(xué)橢圓儀:其原理是利用分光的技術(shù),由于不同材料有不同折射率的特性 ,因此求得膜厚,其儀點(diǎn)為精度高,不論膜厚薄至數(shù) n m ,也可以量取,但是缺點(diǎn)是價(jià)格較貴。