SANKO山高   電阻薄膜厚度計(jì) RST-231

在短時(shí)間內(nèi)（0.7 秒）對(duì)絕緣體上的金屬薄膜（銅箔、印刷電路板上的鍍層等）進(jìn)行高精度測(cè)量

特征

采用四點(diǎn)探針（開(kāi)爾文型）。不受背面或內(nèi)層影響，可測(cè)量雙面和多層板。

使用屏幕大、易于閱讀的電腦。

校準(zhǔn)和測(cè)量簡(jiǎn)便?？蛇x擇兩個(gè)量程，可測(cè)量厚度為 2 至 120 μm 的金屬薄膜。

您最多可以注冊(cè) 40 個(gè)頻道，因此您可以按用戶名、產(chǎn)品編號(hào)等對(duì)頻道進(jìn)行分類，從而注冊(cè)和管理頻道。

可以保存每個(gè)通道的測(cè)量數(shù)據(jù)，并可為測(cè)量數(shù)據(jù)設(shè)置統(tǒng)計(jì)項(xiàng)，以便稍后進(jìn)行統(tǒng)計(jì)處理。

通過(guò)設(shè)定薄膜厚度的上限和下限，可以對(duì)異常值進(jìn)行通知。

規(guī)格